郝跃②

郝跃，男，1958年生，安徽阜阳人，西安电子科技大学教授，博士生导师。现任西安电子科技大学副校长，IEEE高级会员，SIAM学会委员，电子器件学会和可靠性学会高级会员、中国电子学会高级会员，纽约科学院委员(Mmebership)。国家“863”VLSI专家组成员。中国电子学会高级会员，国防科工委军用微电子技术专业组副组长，全国工科微电子技术教学指导委员会副主任，全国第八届青年联合会委员，陕西省和电子工业部进步奖评委，《电子学报》、《微电子学》、《工程数学学报》、《西安电子科技大学学报》和《电子科技》等学报的编委。　　

研究方向

　　郝跃教授主要从事理论和基础性研究，研究方向为集成电路可靠性设计与统计最优化理论和方法，IC制造动力学理论和方法的研究，以及可靠设计技术和方法学研究。在该领域研究中，取得了创造性成果，提出了利用分形描述硅片缺陷的空间分布和粒径分布的理论，实现了集成电路功能成品率表征与最优化设计系统。在该方向他先后承担国家科技攻关、军事电子预研、863高科技项目和各类基金项目七项。先后在国内外重要学术刊物和会议上发表论文80余篇，出版专(合)著五部，获得国家科技进步奖1项，省部级科技进步奖4项。近几年，他先后被评为电子工业部有突出贡献专家、全国电子工业系统先进工作者、陕西省“十大杰出科技青年”和“新长征突击手”，入选国家教委“跨世纪优秀人才”计划。
　　主要研究领域包括宽禁带半导体技术，深亚微米及超深亚微米器件物理，集成电路可制造性和可靠性理论与方法等。先后主持了多项国家科技攻关、863高科技项目、973计划项目、国家自然科学基金等项目，取得了突出成就。研究成果获国家八五重大科技成果奖一项，国家科技进步三等奖一项；电子工业部科技进步一等奖一项；省部级科技进步二等奖三项；三等奖四项；光华科技二等奖一项。在国内外著名刊物和重要国际会议上发表论文200余篇，专著3本，国家发明专利7项。